Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: диссертация на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: 01.04.07

Detalhes bibliográficos
Autor principal:	Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
Autor Corporativo:	Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Outros Autores:	Несмелов Н. С. (научный руководитель)
Idioma:	russo
Publicado em:	Томск, 2002
Assuntos:	Щелочно-галоидные кристаллы > Дефекты кристаллография микронные слои электрическая прочность электрические поля кинетика диссертации
Formato:	Livro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=41524

Descrição
Descrição Física:	304 л. ил.

Registros relacionados