Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук:

Бібліографічні деталі
Автор: Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
Співавтор: Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Резюме:Защита сост. 18.06.2002
Мова:Російська
Опубліковано: Томск, [Б. и.], 2002
Предмети:
Формат: Книга
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=41091

Схожі ресурси