Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
מחבר תאגידי:	Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
סיכום:	Защита сост. 18.06.2002
שפה:	רוסית
יצא לאור:	Томск, [Б. и.], 2002
נושאים:	Щелочно-галоидные кристаллы > Дефекты кристаллография микронные слои электрическая прочность ударная ионизация дефектообразование электропроводность электрические поля кинетика авторефераты диссертаций
פורמט:	ספר
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=41091

פריטים דומים