Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов, автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук:

Bibliographic Details
Main Author:	Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
Corporate Author:	Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Summary:	Защита сост. 18.06.2002
Published:	Томск, [Б. и.], 2002
Subjects:	кристаллография микронные слои электрическая прочность ударная ионизация дефектообразование электропроводность электрические поля кинетика авторефераты диссертаций
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=41091

Similar Items