Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук:

書誌詳細
第一著者: Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
団体著者: Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
要約:Защита сост. 18.06.2002
言語:ロシア語
出版事項: Томск, [Б. и.], 2002
主題:
フォーマット: 図書
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=41091