Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук:

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
Autor corporatiu: Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Sumari:Защита сост. 18.06.2002
Idioma:rus
Publicat: Томск, [Б. и.], 2002
Matèries:
Format: Llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=41091
Descripció
Descripció física:43 с. ил.
Sumari:Защита сост. 18.06.2002