Михайлов О. В., Терехов П. В., Кондаков А. В., Муратов Д. Ш., & Хабибуллин А. С. (2004). Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жёсткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 2. 2004.
Chicagoスタイル(17版)引用形式Михайлов О. В., Терехов П. В., Кондаков А. В., Муратов Д. Ш., , Хабибуллин А. С. Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жёсткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 2. 2004, 2004.
MLA(9版)引用形式Михайлов О. В., et al. Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жёсткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 2. 2004, 2004.