Михайлов О. В., Терехов П. В., Кондаков А. В., Муратов Д. Ш., & Хабибуллин А. С. (2004). Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жёсткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 2. 2004.
Chicago Style (17th ed.) CitationМихайлов О. В., Терехов П. В., Кондаков А. В., Муратов Д. Ш., and Хабибуллин А. С. Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жёсткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 2. 2004, 2004.
MLA (9th ed.) CitationМихайлов О. В., et al. Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жёсткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 2. 2004, 2004.