Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жёсткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле

Bibliographic Details
Parent link:Техническая диагностика и неразрушающий контроль: научно-технический и производственный журнал/ Национальная академия наук Украины (НАНУ), Институт электросварки им. Е. О. Патона (ИЭС) ; Международная ассоциация "Сварка".— , 1990-1993, 2001-.— 0235-3474
№ 2.— 2004.— С. 28-31
Other Authors: Михайлов О. В., Терехов П. В., Кондаков А. В., Муратов Д. Ш., Хабибуллин А. С.
Language:Russian
Published: 2004
Series:Неразрушающий контроль
Subjects:
Format: Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=394543