Применение электронной микроскопии в современной технике тезисы докладов симпозиума

Применение электронной микроскопии в современной технике, тезисы докладов симпозиума

Dettagli Bibliografici
Ente Autore:	Академия наук СССР Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова
Lingua:	russo
Pubblicazione:	Москва, [Б. и.], 1978
Soggetti:	Электронные микроскопы Электронная микроскопия техника электроны дифракция твердое тело поверхность электронная спектроскопия вторичные ионы масс-спектрометрия вторично-ионная эмиссия Оже-спектроскопия полупроводниковые гетероструктуры старение анализ симпозиумы
Natura:	Libro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=371068

Documenti analoghi

Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
Pubblicazione: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)

Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию пер. с англ.
di: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Pubblicazione: (Москва, Техносфера, 2010)

Практика электронной микроскопии. Методы препарирования
di: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Pubblicazione: (Москва, Машгиз, 1961)

Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89) Звенигород, апрель 1989 г.
Pubblicazione: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989)

Техника электронной микроскопии пер. с англ.
Pubblicazione: (Москва, Мир, 1965)

Методика электронной микроскопии пер. с нем.
di: Шиммель Г. Герхард
Pubblicazione: (Москва, Мир, 1972)

Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени учебное пособие пер. с англ.
di: Зевайль А. Ахмед
Pubblicazione: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)

Окно в невидимое (электронный микроскоп)
di: Кушнир Ю. М.
Pubblicazione: (Москва, ОГИЗ, 1947)

Окно в невидимое (электронный микроскоп)
di: Кушнир Ю. М.
Pubblicazione: (Молотов, Молотовское областное издательство, 1949)

Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов пер. с англ.
di: Фульц Б. Брент
Pubblicazione: (Москва, Техносфера, 2011)

Введение в просвечивающую электронную микроскопию твердых тел и биологических объектов [учебное пособие]
di: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
Pubblicazione: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)

Электронный микроскоп
di: Клементьев С. Д.
Pubblicazione: (Москва, Изд-во технико-теоретической литературы, 1953)

Ионная оже-спектроскопия учебное пособие
di: Дорожкин А. А. Андрей Андреевич
Pubblicazione: (Ленинград, Изд-во ЛПИ, 1983)

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения учебное пособие
Pubblicazione: (Москва, Техносфера, 2009)

Кн. 1
Pubblicazione: (1984)

Кн. 2
Pubblicazione: (1984)

Bildinterpretation in der Hochauflosungs-Elektronenmikroskopie
Pubblicazione: (Berlin, Akademie-Verlag, 1984)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля пер. с англ.
di: Брандон Д.
Pubblicazione: (Москва, Техносфера, 2006)

Материаловедение и технологии электроники учебное пособие для вузов
di: Капустин В. И.
Pubblicazione: (Москва, Инфра-М, 2014)

Физико-механические свойства и структура пленок диоксида и оксинитрида титана, осажденных методом реактивного магнетронного распыления автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук спец. 01.04.07
di: Киселева Е. С. Евгения Сергеевна
Pubblicazione: (Томск, [Б. и.], 2016)

Микроанализ и растровая электронная микроскопия пер. с фр.
Pubblicazione: (Москва, Металлургия, 1985)

Зондирующие методы исследований в материаловедении учебное пособие
di: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
Pubblicazione: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014)

Диагностика поверхности ионными пучками тезисы докладов Всесоюзного совещания - семинара 17-27 сентября
Pubblicazione: (Донецк, [Б. и.], 1980)

Высокоточный метод оже-анализа состава неочищенной поверхности окисла кремния
di: Костишко Б. М.
Pubblicazione: (2004)

Электронная спектроскопия кристаллов
di: Немошкаленко В. В. Владимир Владимирович
Pubblicazione: (Киев, Наукова думка, 1983)

Вторично-электронная, фотоэлектронная эмиссии и спектроскопия поверхности твердого тела VI Всесоюзный симпозиум, Рязань, 10-12 сентября 1986 г.
Pubblicazione: (Рязань, [Б. и.], 1986)

Оже-спектроскопия механоактивированных порошков диборида циркония
Pubblicazione: (2011)

Поверхностные свойства твердых тел, легированных ионной бомбардировкой
di: Касымов А. Х. Абдувахит Хусанович
Pubblicazione: (Ташкент, Фан, 1987)

Совместное использование методов Оже-спектроскопии и оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда для исследования электронной структуры мультислойных покрытий, композиционных материалов и сплавов
Pubblicazione: (2020)

Коэффициенты диффузии алюминия в диоксиде циркония, определенные методом вторично-ионной масс-спектрометрии
di: Гынгазов С. А. Сергей Анатольевич
Pubblicazione: (2017)

Технология конструкционных материалов. Анализ поверхности методами атомной физики учебное пособие для бакалавриата и магистратуры
di: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Pubblicazione: (Москва, Юрайт, 2019)

Технология конструкционных материалов . Анализ поверхности методами атомной физики учебное пособие для бакалавриата и магистратуры
di: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Pubblicazione: (Москва, Юрайт, 2016)

Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики учебное пособие
di: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Pubblicazione: (Томск, Изд-во ТПУ, 2012)

Фундаментальные основы анализа нанопленок пер. с англ.
di: Альфорд Т. Терри Л.
Pubblicazione: (Москва, Научный мир, 2012)

Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики учебное пособие
di: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Pubblicazione: (Томск, Изд-во ТПУ, 2013)

Физико-механические свойства и структура пленок диоксида и оксинитрида титана, осажденных методом реактивного магнетронного распыления диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук спец. 01.04.07
di: Киселева Е. С. Евгения Сергеевна
Pubblicazione: (Томск, [Б. и.], 2016)

Новейшие методы исследования биосистем пер. с англ.
di: Нолтинг Б.
Pubblicazione: (Москва, Техносфера, 2005)

Принципы электронной туннельной спектроскопии
di: Вольф Е. Л.
Pubblicazione: (Киев, Наук. думка, 1990)

Ч. 2
Pubblicazione: (1982)

Справочник по микроскопии для нанотехнологии пер. с англ.
Pubblicazione: (Москва, Научный мир, 2011)