Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума
| Tác giả của công ty: | Академия наук СССР Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова |
|---|---|
| Ngôn ngữ: | Tiếng Nga |
| Được phát hành: |
Москва, [Б. и.], 1978
|
| Những chủ đề: | |
| Định dạng: | Sách |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=371068 |
Những quyển sách tương tự
Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
Được phát hành: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)
Được phát hành: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
Bằng: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Được phát hành: (Москва, Техносфера, 2010)
Bằng: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Được phát hành: (Москва, Техносфера, 2010)
Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89): Звенигород, апрель 1989 г.
Được phát hành: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989)
Được phát hành: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989)
Практика электронной микроскопии. Методы препарирования
Bằng: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Được phát hành: (Москва, Машгиз, 1961)
Bằng: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Được phát hành: (Москва, Машгиз, 1961)
Техника электронной микроскопии: пер. с англ.
Được phát hành: (Москва, Мир, 1965)
Được phát hành: (Москва, Мир, 1965)
Методика электронной микроскопии: пер. с нем.
Bằng: Шиммель Г. Герхард
Được phát hành: (Москва, Мир, 1972)
Bằng: Шиммель Г. Герхард
Được phát hành: (Москва, Мир, 1972)
Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени: учебное пособие; пер. с англ.
Bằng: Зевайль А. Ахмед
Được phát hành: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)
Bằng: Зевайль А. Ахмед
Được phát hành: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)
Окно в невидимое (электронный микроскоп)
Bằng: Кушнир Ю. М.
Được phát hành: (Москва, ОГИЗ, 1947)
Bằng: Кушнир Ю. М.
Được phát hành: (Москва, ОГИЗ, 1947)
Окно в невидимое (электронный микроскоп)
Bằng: Кушнир Ю. М.
Được phát hành: (Молотов, Молотовское областное издательство, 1949)
Bằng: Кушнир Ю. М.
Được phát hành: (Молотов, Молотовское областное издательство, 1949)
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов: пер. с англ.
Bằng: Фульц Б. Брент
Được phát hành: (Москва, Техносфера, 2011)
Bằng: Фульц Б. Брент
Được phát hành: (Москва, Техносфера, 2011)
Ионная оже-спектроскопия: учебное пособие
Bằng: Дорожкин А. А. Андрей Андреевич
Được phát hành: (Ленинград, Изд-во ЛПИ, 1983)
Bằng: Дорожкин А. А. Андрей Андреевич
Được phát hành: (Ленинград, Изд-во ЛПИ, 1983)
Микроанализ и растровая электронная микроскопия: пер. с фр.
Được phát hành: (Москва, Металлургия, 1985)
Được phát hành: (Москва, Металлургия, 1985)
Введение в просвечивающую электронную микроскопию твердых тел и биологических объектов: [учебное пособие]
Bằng: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
Được phát hành: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)
Bằng: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
Được phát hành: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)
Электронный микроскоп
Bằng: Клементьев С. Д.
Được phát hành: (Москва, Изд-во технико-теоретической литературы, 1953)
Bằng: Клементьев С. Д.
Được phát hành: (Москва, Изд-во технико-теоретической литературы, 1953)
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
Được phát hành: (Москва, Техносфера, 2009)
Được phát hành: (Москва, Техносфера, 2009)
Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Được phát hành: (1984)
Được phát hành: (1984)
Кн. 2; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Được phát hành: (1984)
Được phát hành: (1984)
Bildinterpretation in der Hochauflosungs-Elektronenmikroskopie
Được phát hành: (Berlin, Akademie-Verlag, 1984)
Được phát hành: (Berlin, Akademie-Verlag, 1984)
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.
Bằng: Брандон Д.
Được phát hành: (Москва, Техносфера, 2006)
Bằng: Брандон Д.
Được phát hành: (Москва, Техносфера, 2006)
Материаловедение и технологии электроники: учебное пособие для вузов
Bằng: Капустин В. И.
Được phát hành: (Москва, Инфра-М, 2014)
Bằng: Капустин В. И.
Được phát hành: (Москва, Инфра-М, 2014)
Физико-механические свойства и структура пленок диоксида и оксинитрида титана, осажденных методом реактивного магнетронного распыления: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук; спец. 01.04.07
Bằng: Киселева Е. С. Евгения Сергеевна
Được phát hành: (Томск, [Б. и.], 2016)
Bằng: Киселева Е. С. Евгения Сергеевна
Được phát hành: (Томск, [Б. и.], 2016)
Зондирующие методы исследований в материаловедении: учебное пособие
Bằng: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
Được phát hành: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014)
Bằng: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
Được phát hành: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014)
Диагностика поверхности ионными пучками: тезисы докладов Всесоюзного совещания - семинара 17-27 сентября
Được phát hành: (Донецк, [Б. и.], 1980)
Được phát hành: (Донецк, [Б. и.], 1980)
Высокоточный метод оже-анализа состава неочищенной поверхности окисла кремния; Измерительная техника; № 10
Bằng: Костишко Б. М.
Được phát hành: (2004)
Bằng: Костишко Б. М.
Được phát hành: (2004)
Электронная спектроскопия кристаллов
Bằng: Немошкаленко В. В. Владимир Владимирович
Được phát hành: (Киев, Наукова думка, 1983)
Bằng: Немошкаленко В. В. Владимир Владимирович
Được phát hành: (Киев, Наукова думка, 1983)
Оже-спектроскопия механоактивированных порошков диборида циркония; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 318, № 2 : Математика и механика. Физика
Được phát hành: (2011)
Được phát hành: (2011)
Вторично-электронная, фотоэлектронная эмиссии и спектроскопия поверхности твердого тела: VI Всесоюзный симпозиум, Рязань, 10-12 сентября 1986 г.
Được phát hành: (Рязань, [Б. и.], 1986)
Được phát hành: (Рязань, [Б. и.], 1986)
Поверхностные свойства твердых тел, легированных ионной бомбардировкой
Bằng: Касымов А. Х. Абдувахит Хусанович
Được phát hành: (Ташкент, Фан, 1987)
Bằng: Касымов А. Х. Абдувахит Хусанович
Được phát hành: (Ташкент, Фан, 1987)
Совместное использование методов Оже-спектроскопии и оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда для исследования электронной структуры мультислойных покрытий, композиционных материалов и сплавов; Новые материалы и перспективные технологии; Т. 1
Được phát hành: (2020)
Được phát hành: (2020)
Коэффициенты диффузии алюминия в диоксиде циркония, определенные методом вторично-ионной масс-спектрометрии; Известия вузов. Физика; Т. 60, № 5
Bằng: Гынгазов С. А. Сергей Анатольевич
Được phát hành: (2017)
Bằng: Гынгазов С. А. Сергей Анатольевич
Được phát hành: (2017)
Детали мехатронных модулей, роботов и их конструкций. Инструментальные методы контроля химического состава и структуры функциональных покрытий учебное пособие
Bằng: Грибанов Е. Н.
Được phát hành: (Орел, ОГУ имени И.С. Тургенева, 2025)
Bằng: Грибанов Е. Н.
Được phát hành: (Орел, ОГУ имени И.С. Тургенева, 2025)
Технология конструкционных материалов . Анализ поверхности методами атомной физики: учебное пособие для бакалавриата и магистратуры
Bằng: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Được phát hành: (Москва, Юрайт, 2016)
Bằng: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Được phát hành: (Москва, Юрайт, 2016)
Технология конструкционных материалов. Анализ поверхности методами атомной физики: учебное пособие для бакалавриата и магистратуры
Bằng: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Được phát hành: (Москва, Юрайт, 2019)
Bằng: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Được phát hành: (Москва, Юрайт, 2019)
Принципы электронной туннельной спектроскопии
Bằng: Вольф Е. Л.
Được phát hành: (Киев, Наук. думка, 1990)
Bằng: Вольф Е. Л.
Được phát hành: (Киев, Наук. думка, 1990)
Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики: учебное пособие
Bằng: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Được phát hành: (Томск, Изд-во ТПУ, 2012)
Bằng: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Được phát hành: (Томск, Изд-во ТПУ, 2012)
Новейшие методы исследования биосистем: пер. с англ.
Bằng: Нолтинг Б.
Được phát hành: (Москва, Техносфера, 2005)
Bằng: Нолтинг Б.
Được phát hành: (Москва, Техносфера, 2005)
Фундаментальные основы анализа нанопленок: пер. с англ.
Bằng: Альфорд Т. Терри Л.
Được phát hành: (Москва, Научный мир, 2012)
Bằng: Альфорд Т. Терри Л.
Được phát hành: (Москва, Научный мир, 2012)
Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики: учебное пособие
Bằng: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Được phát hành: (Томск, Изд-во ТПУ, 2013)
Bằng: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Được phát hành: (Томск, Изд-во ТПУ, 2013)
Справочник по микроскопии для нанотехнологии: пер. с англ.
Được phát hành: (Москва, Научный мир, 2011)
Được phát hành: (Москва, Научный мир, 2011)
Физико-механические свойства и структура пленок диоксида и оксинитрида титана, осажденных методом реактивного магнетронного распыления: диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук; спец. 01.04.07
Bằng: Киселева Е. С. Евгения Сергеевна
Được phát hành: (Томск, [Б. и.], 2016)
Bằng: Киселева Е. С. Евгения Сергеевна
Được phát hành: (Томск, [Б. и.], 2016)
Những quyển sách tương tự
-
Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
Được phát hành: (Москва, Изд-во МГУ, 1984) -
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
Bằng: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Được phát hành: (Москва, Техносфера, 2010) -
Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89): Звенигород, апрель 1989 г.
Được phát hành: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989) -
Практика электронной микроскопии. Методы препарирования
Bằng: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Được phát hành: (Москва, Машгиз, 1961) -
Техника электронной микроскопии: пер. с англ.
Được phát hành: (Москва, Мир, 1965)