Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума

Dades bibliogràfiques
Autor corporatiu:	Академия наук СССР Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова
Idioma:	rus
Publicat:	Москва, [Б. и.], 1978
Matèries:	Электронные микроскопы Электронная микроскопия техника электроны дифракция твердое тело поверхность электронная спектроскопия вторичные ионы масс-спектрометрия вторично-ионная эмиссия Оже-спектроскопия полупроводниковые гетероструктуры старение анализ симпозиумы
Format:	Llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=371068

Ítems similars