|
|
|
|
| LEADER |
00000nam0a2200000 4500 |
| 001 |
371068 |
| 005 |
20231102012337.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\retro\28477
|
| 090 |
|
|
|a 371068
|
| 100 |
|
|
|a 20220912d1978 k y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a y z 101zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Применение электронной микроскопии в современной технике
|e тезисы докладов симпозиума
|f Академия наук СССР, Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова
|
| 210 |
|
|
|a Москва
|c [Б. и.]
|d 1978
|
| 215 |
|
|
|a 199 с.
|
| 320 |
|
|
|a Именной указатель авторов: с. 194-199
|
| 606 |
1 |
|
|a Электронные микроскопы
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\20454
|9 45555
|
| 606 |
1 |
|
|a Электронная микроскопия
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\20357
|9 45466
|
| 610 |
1 |
|
|a техника
|
| 610 |
1 |
|
|a электроны
|
| 610 |
1 |
|
|a дифракция
|
| 610 |
1 |
|
|a твердое тело
|
| 610 |
1 |
|
|a поверхность
|
| 610 |
1 |
|
|a электронная спектроскопия
|
| 610 |
1 |
|
|a вторичные ионы
|
| 610 |
1 |
|
|a масс-спектрометрия
|
| 610 |
1 |
|
|a вторично-ионная эмиссия
|
| 610 |
1 |
|
|a Оже-спектроскопия
|
| 610 |
1 |
|
|a полупроводниковые гетероструктуры
|
| 610 |
1 |
|
|a старение
|
| 610 |
1 |
|
|a анализ
|
| 610 |
1 |
|
|a симпозиумы
|
| 675 |
|
|
|a 621.385.833(063)
|v 4
|
| 675 |
|
|
|a 537.533.3(063)
|v 4
|
| 712 |
0 |
2 |
|a Академия наук СССР
|b Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова
|c (Москва)
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\col\11554
|9 25176
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20220912
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
