Применение электронной микроскопии в современной технике, тезисы докладов симпозиума

Bibliographic Details
Corporate Author:	Академия наук СССР Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова
Language:	Russian
Published:	Москва, [Б. и.], 1978
Subjects:	Электронные микроскопы Электронная микроскопия техника электроны дифракция твердое тело поверхность электронная спектроскопия вторичные ионы масс-спектрометрия вторично-ионная эмиссия Оже-спектроскопия полупроводниковые гетероструктуры старение анализ симпозиумы
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=371068

Description
Physical Description:	199 с.

Similar Items