|
|
|
|
| LEADER |
00000nam0a2200000 4500 |
| 001 |
371009 |
| 005 |
20231102012333.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\retro\28418
|
| 090 |
|
|
|a 371009
|
| 100 |
|
|
|a 20220826d1964 k y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a eng
|
| 102 |
|
|
|a GB
|
| 105 |
|
|
|a a z 001zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Trace Analysis of Semiconductor Materials
|f edited by J. P. Cali
|
| 210 |
|
|
|a Oxford
|c Pergamon Press
|d 1964
|
| 215 |
|
|
|a 282 p.
|c il.
|
| 225 |
1 |
|
|a International series of monographs on analytical chemistry
|v Vol. 11
|
| 320 |
|
|
|a Subject Index: p. 273-282
|
| 330 |
|
|
|a Trace Analysis of Semiconductor Materials - это руководство, посвященное процедурам ультра-трассового анализа. В этой книге обсуждаются шесть различных методов анализа следов. Эти методы являются наиболее распространенными и могут быть применены к различным проблемам по сравнению с другими методами. Каждая из четырех глав в основном включает введение в принципы и общие положения. Затем кратко обсуждается теоретическая основа рассматриваемой техники. Объясняется практическое применение методов и различных приборов. Затем обсуждаются приложения для анализа следов, относящиеся к полупроводниковым материалам. В главе 1 обсуждается радиохимическая практика, анализ полупроводниковых материалов, методы разделения, несколько качественных радиохимических схем, процедуры радиохимической очистки и несколько ранее сообщенных исследований. Глава 2 охватывает эмиссионную спектроскопию, включая ее потенциал для будущих применений. Обсуждения в главе 3 объясняют преимущества каждого из четырех масс-спектрометрических методов, а именно: метод разбавления изотопов, полное термическое испарение, метод вакуумной искры и метод ионной бомбардировки. Глава 4 посвящена абсорбционным, флуоресцентным и полярографическим методам, используемым в общем анализе следов, включая примеры применения полупроводниковых материалов и другие проблемы, возникающие при введении определенных примесей в испытуемый образец. Данная монография будет полезна исследователям в области ультра-трассового анализа, ядерной физики и аналитической химии.
|
| 541 |
1 |
|
|a Анализ следов полупроводниковых материалов
|z rus
|
| 606 |
1 |
|
|a Аналитическая химия
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\67454
|9 83247
|
| 610 |
1 |
|
|a полупроводниковые материалы
|
| 610 |
1 |
|
|a нейтронно-активационный анализ
|
| 610 |
1 |
|
|a эмиссионная спектроскопия
|
| 610 |
1 |
|
|a масс-спектральный анализ
|
| 610 |
1 |
|
|a абсорбционные методы
|
| 610 |
1 |
|
|a флуоресцентная спектроскопия
|
| 610 |
1 |
|
|a полярографические методы
|
| 675 |
|
|
|a 543
|v 4
|
| 702 |
|
1 |
|a Cali
|b J. P.
|g J. Paul
|4 340
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20220826
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20220826
|g RCR
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
