|
|
|
|
| LEADER |
00000nam0a2200000 4500 |
| 001 |
366823 |
| 005 |
20231102011924.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\retro\24186
|
| 090 |
|
|
|a 366823
|
| 100 |
|
|
|a 20220218d1979 km y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a z 001zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Надежность твердых интегральных схем
|f И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов
|
| 205 |
|
|
|a 2-е изд., испр. и доп.
|
| 210 |
|
|
|a Москва
|c Издательство стандартов
|d 1979
|
| 215 |
|
|
|a 216 с.
|c ил.
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр.: с. 210-215
|
| 606 |
1 |
|
|a Микроэлектронные схемы интегральные твердые
|x Надежность
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\43866
|9 63307
|
| 610 |
1 |
|
|a полупроводниковые микросхемы
|
| 610 |
1 |
|
|a отказы
|
| 610 |
1 |
|
|a причины
|
| 610 |
1 |
|
|a контроль
|
| 610 |
1 |
|
|a методы
|
| 610 |
1 |
|
|a оценка
|
| 610 |
1 |
|
|a метрологическое обеспечение
|
| 610 |
1 |
|
|a качество
|
| 675 |
|
|
|a 621.382.049.774
|v 4
|
| 700 |
|
1 |
|a Ефимов
|b И. Е.
|g Иван Ефимович
|
| 701 |
|
1 |
|a Кальман
|b И. Г.
|g Игорь Георгиевич
|
| 701 |
|
1 |
|a Мартынов
|b В. И.
|g Владимир Иванович
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20220218
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20220218
|g RCR
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
