Надежность твердых интегральных схем

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Ефимов И. Е. Иван Ефимович
מחברים אחרים:	Кальман И. Г. Игорь Георгиевич, Мартынов В. И. Владимир Иванович
שפה:	רוסית
יצא לאור:	Москва, Издательство стандартов, 1979
מהדורה:	2-е изд., испр. и доп.
נושאים:	Микроэлектронные схемы интегральные твердые > Надежность полупроводниковые микросхемы отказы причины контроль методы оценка метрологическое обеспечение качество
פורמט:	ספר
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=366823

פריטים דומים