Надежность твердых интегральных схем

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:	Ефимов И. Е. Иван Ефимович
Այլ հեղինակներ:	Кальман И. Г. Игорь Георгиевич, Мартынов В. И. Владимир Иванович
Լեզու:	ռուսերեն
Հրապարակվել է:	Москва, Издательство стандартов, 1979
Հրատարակություն:	2-е изд., испр. и доп.
Խորագրեր:	Микроэлектронные схемы интегральные твердые > Надежность полупроводниковые микросхемы отказы причины контроль методы оценка метрологическое обеспечение качество
Ձևաչափ:	Գիրք
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=366823

Նկարագրություն
Ֆիզիկական նկարագրություն:	216 с. ил.

Նմանատիպ նյութեր