Анализ поверхности методами оже-и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: пер. с англ.

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Сих М. П., Бриггс Д.
Sprache:	Russisch
Veröffentlicht:	Москва, Мир, 1987
Schlagworte:	Рентгеноспектроскопия физика спектроскопия рентгеноэлектронная исследования поверхностные явления оже-спектроскопия оборудование применение
Format:	MixedMaterials Buch
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=36054

MARC


LEADER	00000nam0a2200000 4500
001	36054
005	20231101210339.0
035			\|a (RuTPU)RU\TPU\book\36515
035			\|a BOOK00003167
090			\|a 36054
100			\|a 20011210d1987 k y0rusy50 ca
101	1		\|a rus \|c eng
102			\|a RU
105			\|a a z 001zy
200	1		\|a Анализ поверхности методами оже-и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии \|e пер. с англ. \|f под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха
210			\|a Москва \|c Мир \|d 1987
215			\|a 598 с. \|c ил.
606			\|a Рентгеноспектроскопия \|2 stltpush \|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\53508 \|9 71714
610	1		\|a физика
610	1		\|a спектроскопия рентгеноэлектронная
610	1		\|a исследования
610	1		\|a поверхностные явления
610	1		\|a оже-спектроскопия
610	1		\|a оборудование
610	1		\|a применение
675			\|a 539.26 \|v 3
702		1	\|a Сих \|b М. П.
702		1	\|a Бриггс \|b Д.
801		0	\|a RU \|b 63413507 \|c 20011210 \|g PSBO
801		2	\|a RU \|b 63413507 \|c 20170919 \|g PSBO
900			\|a Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок
942			\|c BK