• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Advanced
  • Анализ поверхности методами ож...
  • Cite this
  • Text this
  • Email this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Анализ поверхности методами оже-и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии пер. с англ.

Анализ поверхности методами оже-и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, пер. с англ.

Bibliographic Details
Other Authors: Сих М. П., Бриггс Д.
Language:Russian
Published: Москва, Мир, 1987
Subjects:
Рентгеноспектроскопия
физика
спектроскопия рентгеноэлектронная
исследования
поверхностные явления
оже-спектроскопия
оборудование
применение
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=36054
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Similar Items

  • Рентгеновские спектры поглощения твердых тел
    by: Ведринский Р. В. Ростислав Викторович
    Published: (Москва, Энергоатомиздат, 1991)
  • Теоретические основы рентгеновской эмиссионной спектроскопии
    by: Немошкаленко В. В. Владимир Владимирович
    Published: (Киев, Наукова думка, 1974)
  • Рентгеновская спектроскопия многозарядных ионов
    Published: (Москва, Энергоатомиздат, 1988)
  • Рентгеновские спектры и электронная структура силицидов и германидов монография
    by: Жураковский Е. А. Евгений Александрович
    Published: (Киев, Наукова думка, 1981)
  • Ионная оже-спектроскопия учебное пособие
    by: Дорожкин А. А. Андрей Андреевич
    Published: (Ленинград, Изд-во ЛПИ, 1983)