• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
বিস্তৃত
  • Основы анализа поверхности и т...
  • সাইট করুন
  • এই পাঠটি
  • এই ই-মেইলটি
  • মুদ্রণ
  • নথি এক্সপোর্ট করুন
    • এক্সপোর্ট করুন RefWorks
    • এক্সপোর্ট করুন EndNoteWeb
    • এক্সপোর্ট করুন EndNote
  • স্থায়ী লিঙ্ক
Основы анализа поверхности и тонких пленок: пер. с англ.

Основы анализа поверхности и тонких пленок: пер. с англ.

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Фелдман Л. Леонард
অন্যান্য লেখক: Майер Дж. Джеймс
ভাষা:রুশ
প্রকাশিত: Москва, Мир, 1989
বিষয়গুলি:
Пленки тонкие > Исследование > (твердые тела)
физика
поверхностные слои
ядерно-физический анализ
пленки тонкие
электроны
рентгеновские излучения
ионы
বিন্যাস: গ্রন্থ
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=36053
  • হোল্ডিংস
  • বিবরন
  • অনুরূপ উপাদানগুলি
  • স্টাফেদের বিবরণ দেখুন

অনুরূপ উপাদানগুলি

  • Механизм образования и субструктура конденсированных пленок
    অনুযায়ী: Палатник Л. С. Лев Самойлович
    প্রকাশিত: (Москва, Наука, 1972)
  • Формирование тонких пленок: учебное пособие
    অনুযায়ী: Кирсанова Т. С. Татьяна Сергеевна
    প্রকাশিত: (Ленинград, Изд-во ЛПИ, 1983)
  • Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis
    অনুযায়ী: Feldman L. C. Leonard
    প্রকাশিত: (New York, North-Holland, 1986)
  • Ионно-активированная кристаллизация пленок
    অনুযায়ী: Лютович А. С.
    প্রকাশিত: (Ташкент, Фан, 1982)
  • Исследование и применение тонких пленок
    অনুযায়ী: Борисов А. Н. Андрей Н.
    প্রকাশিত: (Германия, LAP Lambert Academic Publishing, 2015)