Основы анализа поверхности и тонких пленок пер. с англ.

Основы анализа поверхности и тонких пленок, пер. с англ.

Bibliographic Details
Main Author: Фелдман Л. Леонард
Other Authors: Майер Дж. Джеймс
Published: Москва, Мир, 1989
Subjects:
физика
поверхностные слои
ядерно-физический анализ
пленки тонкие
электроны
рентгеновские излучения
ионы
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=36053

Similar Items