• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Pokročilé
  • Основы анализа поверхности и т...
  • Vytvořit citaci
  • Zaslat SMS
  • Poslat e-mailem
  • Vytisknout
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
  • Trvalý odkaz
Export byl úspěšný — 
Основы анализа поверхности и тонких пленок: пер. с англ.

Основы анализа поверхности и тонких пленок: пер. с англ.

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Фелдман Л. Леонард
Další autoři: Майер Дж. Джеймс
Jazyk:ruština
Vydáno: Москва, Мир, 1989
Témata:
Пленки тонкие > Исследование > (твердые тела)
физика
поверхностные слои
ядерно-физический анализ
пленки тонкие
электроны
рентгеновские излучения
ионы
Médium: Kniha
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=36053
  • Jednotky
  • Popis
  • Podobné jednotky
  • UNIMARC/MARC

Podobné jednotky

  • Механизм образования и субструктура конденсированных пленок
    Autor: Палатник Л. С. Лев Самойлович
    Vydáno: (Москва, Наука, 1972)
  • Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis
    Autor: Feldman L. C. Leonard
    Vydáno: (New York, North-Holland, 1986)
  • Формирование тонких пленок: учебное пособие
    Autor: Кирсанова Т. С. Татьяна Сергеевна
    Vydáno: (Ленинград, Изд-во ЛПИ, 1983)
  • Ионно-активированная кристаллизация пленок
    Autor: Лютович А. С.
    Vydáno: (Ташкент, Фан, 1982)
  • Исследование и применение тонких пленок
    Autor: Борисов А. Н. Андрей Н.
    Vydáno: (Германия, LAP Lambert Academic Publishing, 2015)