• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Recherche avancée
  • Основы анализа поверхности и т...
  • Citer
  • Envoyer par SMS
  • Envoyer par courriel
  • Imprimer
  • Exporter les notices
    • Exporter vers RefWorks
    • Exporter vers EndNoteWeb
    • Exporter vers EndNote
  • Permalien
Основы анализа поверхности и тонких пленок: пер. с англ.

Основы анализа поверхности и тонких пленок: пер. с англ.

Détails bibliographiques
Auteur principal: Фелдман Л. Леонард
Autres auteurs: Майер Дж. Джеймс
Langue:russe
Publié: Москва, Мир, 1989
Sujets:
Пленки тонкие > Исследование > (твердые тела)
физика
поверхностные слои
ядерно-физический анализ
пленки тонкие
электроны
рентгеновские излучения
ионы
Format: Livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=36053
  • Exemplaires
  • Description
  • Documents similaires
  • Affichage MARC
Description
Description matérielle:342 с. ил.
ISBN:503001013
0-444-00989-2

Documents similaires

  • Механизм образования и субструктура конденсированных пленок
    par: Палатник Л. С. Лев Самойлович
    Publié: (Москва, Наука, 1972)
  • Формирование тонких пленок: учебное пособие
    par: Кирсанова Т. С. Татьяна Сергеевна
    Publié: (Ленинград, Изд-во ЛПИ, 1983)
  • Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis
    par: Feldman L. C. Leonard
    Publié: (New York, North-Holland, 1986)
  • Ионно-активированная кристаллизация пленок
    par: Лютович А. С.
    Publié: (Ташкент, Фан, 1982)
  • Исследование и применение тонких пленок
    par: Борисов А. Н. Андрей Н.
    Publié: (Германия, LAP Lambert Academic Publishing, 2015)