Автоионная микроскопия: [монография]; пер. с англ.
| Další autoři: | , , |
|---|---|
| Shrnutí: | Книга представляет собой коллективную монографию, напитанную на основе впервые введенного в учебную программу университетского курса по автоионной микроскопии - по этому бурно развивающемуся методу экспериментальной физики, который позволяет, например, наблюдать на атомарном уровне кристаллическую решетку металлических образцов. В ней отражены современные теории и экспериментальные данные по полевой эмиссии и полевой ионизации, процессам испарения поверхностных атомных слоев с образцов под действием электрического поля. Авторы дают рекомендации по способам исследования в ионном проекторе (автоионном микроскопе) многих чистых металлов и сплавов, тонких пленок и биологических молекул на металлической поверхности. Они излагают методы интерпретации автоионных изображений и анализа разных дефектов по подобным изображениям. Книга предназначается для инженеров, научных работников, аспирантов и студентов, работающих в областях физики твердого тела, кристаллографии, физической электроники, биологии, физико-технических разделов различных технических дисциплин. |
| Jazyk: | ruština |
| Vydáno: |
Москва, Мир, 1971
|
| Témata: | |
| Médium: | Kniha |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=348729 |
| Fyzický popis: | 270 с. ил. |
|---|---|
| Shrnutí: | Книга представляет собой коллективную монографию, напитанную на основе впервые введенного в учебную программу университетского курса по автоионной микроскопии - по этому бурно развивающемуся методу экспериментальной физики, который позволяет, например, наблюдать на атомарном уровне кристаллическую решетку металлических образцов. В ней отражены современные теории и экспериментальные данные по полевой эмиссии и полевой ионизации, процессам испарения поверхностных атомных слоев с образцов под действием электрического поля. Авторы дают рекомендации по способам исследования в ионном проекторе (автоионном микроскопе) многих чистых металлов и сплавов, тонких пленок и биологических молекул на металлической поверхности. Они излагают методы интерпретации автоионных изображений и анализа разных дефектов по подобным изображениям. Книга предназначается для инженеров, научных работников, аспирантов и студентов, работающих в областях физики твердого тела, кристаллографии, физической электроники, биологии, физико-технических разделов различных технических дисциплин. |