| Summary: | Книга представляет собой коллективную монографию, напитанную на основе впервые введенного в учебную программу университетского курса по автоионной микроскопии - по этому бурно развивающемуся методу экспериментальной физики, который позволяет, например, наблюдать на атомарном уровне кристаллическую решетку металлических образцов. В ней отражены современные теории и экспериментальные данные по полевой эмиссии и полевой ионизации, процессам испарения поверхностных атомных слоев с образцов под действием электрического поля. Авторы дают рекомендации по способам исследования в ионном проекторе (автоионном микроскопе) многих чистых металлов и сплавов, тонких пленок и биологических молекул на металлической поверхности. Они излагают методы интерпретации автоионных изображений и анализа разных дефектов по подобным изображениям. Книга предназначается для инженеров, научных работников, аспирантов и студентов, работающих в областях физики твердого тела, кристаллографии, физической электроники, биологии, физико-технических разделов различных технических дисциплин. |
|---|
