A complex of spectrochemical, mass-spectrometric and atomic-absorption methods for the analysis of thin layers of gallium arsenide and silicon semiconductors [offprint]
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Vydáno: |
Vienna, Springer-Verlag, 1978
|
| Edice: | Mikrochimica Acta № 1, 1978 |
| Témata: | |
| Médium: | Kniha |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=335673 |
| Fyzický popis: | 10 p. il. |
|---|