A complex of spectrochemical, mass-spectrometric and atomic-absorption methods for the analysis of thin layers of gallium arsenide and silicon semiconductors [offprint]
| Autor principal: | |
|---|---|
| Altres autors: | |
| Publicat: |
Vienna, Springer-Verlag, 1978
|
| Col·lecció: | Mikrochimica Acta № 1, 1978 |
| Matèries: | |
| Format: | Llibre |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=335673 |
| Descripció física: | 10 p. il. |
|---|