Надежность полупроводниковых радиоустройств летательных аппаратов. Методы расчета надежности по постепенным, временным и перемежающимся отказам

Bibliographic Details
Other Authors:	Фомин А. В. Алексей Васильевич, Обичкин Ю. Г. Юрий Геннадьевич, Молостов Е. А. Евгений Александрович, Лукин В. С. Виктор Семенович, Боченков Ю. И. Юрий Иванович, Голомазова З. А. Зоя Анатольевна, Замолодчиков Г. В. Геннадий Васильевич
Published:	Москва, Машиностроение, 1968
Subjects:	радиоизделия надежность расчет допуски кривые определение
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=324757

Similar Items