| Summary: | Учебное пособие содержит изложение физических основ, принципов аппаратурной реализации, метрологических характеристик и применений методов исследования, основанных на зондировании твердых тел электромагнитными волнами высоких и сверхвысоких частот, рентгеновскими лучами, гамма-квантами, потоками электронов, ионов и нейтронов. Рассмотрены явления взаимодействия излучений различного вида с веществом, приведены необходимые сведения из кристаллографии и оптики пучков частиц. Представлены также методы сканирующей зондовой микроскопии, в том числе туннельная, атомно-силовая и ближнепольиая оптическая микроскопия. Прикладные вопросы рассмотрены, в основном, на примере исследований материалов для магнитной и спиновой электроники и некоторых наноструктурированных сред. К каждому разделу подобраны вопросы и упражнения. Пособие предназначено для студентов старших курсов университетов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров и магистров «Материаловедение и технология материалов», «Электроника и наноэлектроника», аспирантов по специальности "Физика конденсированного состояния". Оно также представляет интерес для студентов, преподавателей высших \чебных заведений и технических колледжей. научных и инженерно-технических работников, специализирующихся в области материаловедения, физики и химии твердого тела, методов экспериментальной физики и др. |
|---|
