• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Advanced
  • Спектрофотометрия тонкопленочн...
  • Cite this
  • Text this
  • Email this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур

Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур

Bibliographic Details
Main Author: Раков А. В. Александр Васильевич
Published: Москва, Советское радио, 1975
Subjects:
спектрофотометрические исследования
тонкопленочные полупроводники
физико-химические свойства
оптические схемы
дисперсия
спектральные приборы
монохроматоры
спектрометры
спектрофотометры
тонкие пленки
плазменные явления
электроотражение
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=315735
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Similar Items

  • Электронные измерения и измерение параметров полупроводниковых приборов учебное пособие
    by: Криштафович А. К. Алексей Константинович
    Published: (Москва, Высшая школа, 1974)
  • Модуляционная спектроскопия широкозонных полупроводников
    Published: (Москва, Наука, 1985)
  • Вып. 37
    Published: (Киев, Лыбидь, 1990)
  • Вып. 39
    Published: (Киев, Лыбидь, 1990)
  • Вып. 38
    Published: (Киев, Лыбидь, 1990)