Fundamental Principles of Engineering Nanometrology

Détails bibliographiques
Auteur principal: Leach R. K. Richard
Résumé:Заглавие с титульного экрана
Режим доступа: из корпоративной сети ТПУ
Langue:anglais
Publié: Amsterdam, Elsevier, 2010
Sujets:
Accès en ligne:http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2016/science_book/Fundamental%20Principles.pdf
Format: MixedMaterials Électronique Livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=315018

MARC

LEADER 00000nlm0a2200000 4500
001 315018
005 20231102002733.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\340451 
035 |a RU\TPU\book\340445 
090 |a 315018 
100 |a 20160224d2010 k y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a NL 
105 |a a z 001zy 
135 |a drcn ---uucaa 
200 1 |a Fundamental Principles of Engineering Nanometrology  |b Electronic resource  |f R. K. Leach 
203 |a Text  |c electronic 
210 |a Amsterdam  |c Elsevier  |d 2010 
230 |a 1 компьютерный файл (pdf; 13 Mb) 
300 |a Заглавие с титульного экрана 
333 |a Режим доступа: из корпоративной сети ТПУ 
337 |a Adobe Reader 
606 1 |a Метрология  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\43497  |9 62988 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a нанометрология 
610 1 |a инженерная нанометрология 
610 1 |a метрология 
610 1 |a нанотехнологии 
675 |a 006  |v 3 
700 1 |a Leach  |b R. K.  |g Richard 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20131216 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20160615  |g RCR 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2016/science_book/Fundamental%20Principles.pdf 
942 |c CF