Fundamental Principles of Engineering Nanometrology

Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Leach R. K. Richard
Sumari:	Заглавие с титульного экрана Режим доступа: из корпоративной сети ТПУ
Idioma:	anglès
Publicat:	Amsterdam, Elsevier, 2010
Matèries:	электронный ресурс нанометрология инженерная нанометрология метрология нанотехнологии
Accés en línia:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2016/science_book/Fundamental%20Principles.pdf
Format:	Electrònic Llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=315018

Internet