Fundamental Principles of Engineering Nanometrology

Bibliographic Details
Main Author:	Leach R. K. Richard
Summary:	Заглавие с титульного экрана Режим доступа: из корпоративной сети ТПУ
Language:	English
Published:	Amsterdam, Elsevier, 2010
Subjects:	Метрология электронный ресурс нанометрология инженерная нанометрология метрология нанотехнологии
Online Access:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2016/science_book/Fundamental%20Principles.pdf
Format:	Electronic Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=315018

Internet