• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
بحث متقدم
  • Количественная хроматография н...
  • استشهد بهذا
  • أرسل هذا في رسالة قصيرة
  • أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
  • طباعة
  • تصدير التسجيلة
    • تصدير إلى RefWorks
    • تصدير إلى EndNoteWeb
    • تصدير إلى EndNote
  • رابط دائم
Количественная хроматография на бумаге и в тонком слое

Количественная хроматография на бумаге и в тонком слое

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Шеллард Э.
اللغة:الروسية
منشور في: Москва, Мир, 1971
الموضوعات:
Микроэлектроника
эллипсометрия
физические принципы
математическая обработка
методы
эллипсометрическое исследование
эллипсометры
пластины
поверхности
подготовка
тонкопленочные системы
полупроводниковые слои
التنسيق: كتاب
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=314207
  • المقتنيات
  • الوصف
  • مواد مشابهة
  • عرض للأخصائي

مواد مشابهة

  • Эллипсометрия в микроэлектронике
    حسب: Резвый Р. Р. Ростислав Ростиславович
    منشور في: (Москва, Радио и связь, 1983)
  • Эллипсометрия-метод исследования поверхности
    منشور في: (Новосибирск, Наука, 1983)
  • Микроэлектроника
    حسب: Гаврилов С. Н. Сергей Николаевич
    منشور في: (Москва, Энергия, 1970)
  • Обработка монокристаллов в микроэлектронике
    حسب: Карбань В. И. Валерий Иванович
    منشور في: (Москва, Радио и связь, 1988)
  • Современные технологии в микроэлектронике: электронный курс
    حسب: Юрьева А. В. Алена Викторовна
    منشور في: (Томск, TPU Moodle, 2014)