Количественная хроматография на бумаге и в тонком слое

Bibliographic Details
Main Author:	Шеллард Э.
Published:	Москва, Мир, 1971
Subjects:	эллипсометрия физические принципы математическая обработка методы эллипсометрическое исследование эллипсометры пластины поверхности подготовка тонкопленочные системы полупроводниковые слои
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=314207

Similar Items