MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 314207
005 20231102002644.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\339618 
090 |a 314207 
100 |a 20160210d1983 km y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Количественная хроматография на бумаге и в тонком слое  |f Э. Шеллард 
210 |a Москва  |c Мир  |d 1971 
215 |a 192 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 118-120 
606 1 |a Микроэлектроника  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\43811  |9 63253 
610 1 |a эллипсометрия 
610 1 |a физические принципы 
610 1 |a математическая обработка 
610 1 |a методы 
610 1 |a эллипсометрическое исследование 
610 1 |a эллипсометры 
610 1 |a пластины 
610 1 |a поверхности 
610 1 |a подготовка 
610 1 |a тонкопленочные системы 
610 1 |a полупроводниковые слои 
675 |a 621.382.049.77  |v 4 
700 1 |a Шеллард  |b Э. 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20160210 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20190710  |g RCR 
942 |c BK