• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Napredno
  • Надежность полупроводниковых у...
  • Citiraj ovo
  • Pošalji tekstualnu poruku
  • Pošalji ovo e-mailom
  • Ispiši
  • Izvezi zapis
    • Izvezi u RefWorks
    • Izvezi u EndNoteWeb
    • Izvezi u EndNote
  • Stalna poveznica
Izvoz spreman — 
Надежность полупроводниковых устройств: пер. с англ.

Надежность полупроводниковых устройств: пер. с англ.

Bibliografski detalji
Daljnji autori: Маслов А. А. (редактор)
Jezik:ruski
Izdano: Москва, Иностранная литература, 1963
Teme:
Полупроводниковые приборы > Надежность > Прогнозирование
транзисторы
диоды
испытание
отказы
анализ
оборудование
теория надежности
Format: Knjiga
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=306084
  • Primjerci
  • Opis
  • Slični predmeti
  • Prikaz za djelatnike knjižnice

Slični predmeti

  • Обеспечение надежности полупроводниковых устройств: пер. с англ.
    Izdano: (Москва, Мир, 1964)
  • Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении
    od: Горюнов Н. Н. Николай Николаевич
    Izdano: (Москва, Энергия, 1970)
  • Физика полупроводниковых приборов: пер. с англ.
    od: Зи С. М.
    Izdano: (Москва, Энергия, 1973)
  • Физика полупроводниковых приборов: пер. с англ.; в 2-х кн.; Кн. 2
    od: Шур М. С. Михаил Саулович
    Izdano: (Москва, Мир, 1992)
  • Основы физики полупроводниковых приборов: учебное пособие
    od: Федотов Я. А. Яков Андреевич
    Izdano: (Москва, Советское радио, 1969)