• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Udvidet
  • Надежность полупроводниковых у...
  • Citér dette
  • Stav dette
  • Email dette
  • Udskriv
  • Eksportér post
    • Eksportér til RefWorks
    • Eksportér til EndNoteWeb
    • Eksportér til EndNote
  • Permanent link
Надежность полупроводниковых устройств: пер. с англ.

Надежность полупроводниковых устройств: пер. с англ.

Bibliografiske detaljer
Andre forfattere: Маслов А. А. (редактор)
Sprog:russisk
Udgivet: Москва, Иностранная литература, 1963
Fag:
Полупроводниковые приборы > Надежность > Прогнозирование
транзисторы
диоды
испытание
отказы
анализ
оборудование
теория надежности
Format: Bog
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=306084
  • Beholdninger
  • Beskrivelse
  • Lignende værker
  • Medarbejdervisning

Lignende værker

  • Обеспечение надежности полупроводниковых устройств: пер. с англ.
    Udgivet: (Москва, Мир, 1964)
  • Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении
    af: Горюнов Н. Н. Николай Николаевич
    Udgivet: (Москва, Энергия, 1970)
  • Физика полупроводниковых приборов: пер. с англ.
    af: Зи С. М.
    Udgivet: (Москва, Энергия, 1973)
  • Физика полупроводниковых приборов
    af: Лебедев А. И.
    Udgivet: (Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2008)
  • Основы физики полупроводниковых приборов: учебное пособие
    af: Федотов Я. А. Яков Андреевич
    Udgivet: (Москва, Советское радио, 1970)