Надежность полупроводниковых устройств, пер. с англ.

Bibliographic Details
Other Authors:	Маслов А. А. (340)
Published:	Москва, Иностранная литература, 1963
Subjects:	транзисторы диоды испытание отказы анализ оборудование теория надежности
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=306084

Similar Items