Надежность полупроводниковых устройств: пер. с англ.

Bibliografske podrobnosti
Drugi avtorji:	Маслов А. А. (редактор)
Jezik:	ruščina
Izdano:	Москва, Иностранная литература, 1963
Teme:	Полупроводниковые приборы > Надежность > Прогнозирование транзисторы диоды испытание отказы анализ оборудование теория надежности
Format:	Knjiga
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=306084

MARC


LEADER	00000nam0a2200000 4500
001	306084
005	20231102001848.0
035			\|a (RuTPU)RU\TPU\book\331361
090			\|a 306084
100			\|a 20151002d1963 km y0rusy50 ca
101	1		\|a rus \|c eng
102			\|a RU
105			\|a a z 001zy
200	1		\|a Надежность полупроводниковых устройств \|e пер. с англ. \|f под ред. А. А. Маслова
210			\|a Москва \|c Иностранная литература \|d 1963
215			\|a 426 с. \|c ил.
320			\|a Библиография в конце статей
606	1		\|a Полупроводниковые приборы \|x Надежность \|x Прогнозирование \|2 stltpush \|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\50676 \|9 69327
610	1		\|a транзисторы
610	1		\|a диоды
610	1		\|a испытание
610	1		\|a отказы
610	1		\|a анализ
610	1		\|a оборудование
610	1		\|a теория надежности
675			\|a 621.382.01 \|v 4
702		1	\|a Маслов \|b А. А. \|4 340
801		1	\|a RU \|b 63413507 \|c 20151002
801		2	\|a RU \|b 63413507 \|c 20200611 \|g RCR
942			\|c BK