• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Recherche avancée
  • Надежность полупроводниковых у...
  • Citer
  • Envoyer par SMS
  • Envoyer par courriel
  • Imprimer
  • Exporter les notices
    • Exporter vers RefWorks
    • Exporter vers EndNoteWeb
    • Exporter vers EndNote
  • Permalien
Надежность полупроводниковых устройств: пер. с англ.

Надежность полупроводниковых устройств: пер. с англ.

Détails bibliographiques
Autres auteurs: Маслов А. А. (редактор)
Langue:russe
Publié: Москва, Иностранная литература, 1963
Sujets:
Полупроводниковые приборы > Надежность > Прогнозирование
транзисторы
диоды
испытание
отказы
анализ
оборудование
теория надежности
Format: Livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=306084
  • Exemplaires
  • Description
  • Documents similaires
  • Affichage MARC
Description
Description matérielle:426 с. ил.

Documents similaires

  • Обеспечение надежности полупроводниковых устройств: пер. с англ.
    Publié: (Москва, Мир, 1964)
  • Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении
    par: Горюнов Н. Н. Николай Николаевич
    Publié: (Москва, Энергия, 1970)
  • Физика полупроводниковых приборов: пер. с англ.
    par: Зи С. М.
    Publié: (Москва, Энергия, 1973)
  • Физика полупроводниковых приборов
    par: Лебедев А. И.
    Publié: (Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2008)
  • Основы физики полупроводниковых приборов: учебное пособие
    par: Федотов Я. А. Яков Андреевич
    Publié: (Москва, Советское радио, 1970)