Обеспечение надежности полупроводниковых устройств: пер. с англ.

Bibliographic Details
Other Authors:	Савина А. С. (редактор)
Language:	Russian
Published:	Москва, Мир, 1964
Subjects:	Полупроводниковые приборы > Надежность > Прогнозирование данные анализ методы отказы уменьшение требования оценка инженерный подход выборочный контроль технические условия
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=306072

MARC


LEADER	00000nam0a2200000 4500
001	306072
005	20231102001848.0
035			\|a (RuTPU)RU\TPU\book\331349
090			\|a 306072
100			\|a 20151002d1964 km y0rusy50 ca
101	1		\|a rus \|c eng
102			\|a RU
105			\|a a z 000zy
200	1		\|a Обеспечение надежности полупроводниковых устройств \|e пер. с англ. \|f под ред. А. С. Савиной
210			\|a Москва \|c Мир \|d 1964
215			\|a 464 с. \|c ил.
606	1		\|a Полупроводниковые приборы \|x Надежность \|x Прогнозирование \|2 stltpush \|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\50676 \|9 69327
610	1		\|a данные
610	1		\|a анализ
610	1		\|a методы
610	1		\|a отказы
610	1		\|a уменьшение
610	1		\|a требования
610	1		\|a оценка
610	1		\|a инженерный подход
610	1		\|a выборочный контроль
610	1		\|a технические условия
675			\|a 621.382.01 \|v 3
702		1	\|a Савина \|b А. С. \|4 340
801		1	\|a RU \|b 63413507 \|c 20151002
801		2	\|a RU \|b 63413507 \|c 20200228 \|g RCR
942			\|c BK