• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avanzado
  • Обеспечение надежности полупро...
  • Citar
  • Text this
  • Enviar este rexistro por email
  • Imprimir
  • Exportar rexistro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Permanent link
Обеспечение надежности полупроводниковых устройств: пер. с англ.

Обеспечение надежности полупроводниковых устройств: пер. с англ.

Detalles Bibliográficos
Outros autores: Савина А. С. (редактор)
Idioma:ruso
Publicado: Москва, Мир, 1964
Subjects:
Полупроводниковые приборы > Надежность > Прогнозирование
данные
анализ
методы
отказы
уменьшение
требования
оценка
инженерный подход
выборочный контроль
технические условия
Formato: Libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=306072
  • Existencias
  • Descripción
  • Títulos similares
  • Staff View

Títulos similares

  • Надежность полупроводниковых устройств: пер. с англ.
    Publicado: (Москва, Иностранная литература, 1963)
  • Вып. I; Причины , механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях
    Publicado: (1977)
  • Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении
    por: Горюнов Н. Н. Николай Николаевич
    Publicado: (Москва, Энергия, 1970)
  • Тепловые режимы низковольтных комплектных устройств
    por: Архипов П. А. Петр Архипович
    Publicado: (Москва, Энергоатомиздат, 1987)
  • Испытания элементов радиоэлектронной аппаратуры: Физ. методы надежности. Справ. пособие: справочное пособие
    por: Некрасов М. М. Михаил Макарович
    Publicado: (Киев, Вища школа, 1981)