Обеспечение надежности полупроводниковых устройств, пер. с англ.

Bibliographic Details
Other Authors:	Савина А. С. (340)
Published:	Москва, Мир, 1964
Subjects:	данные анализ методы отказы уменьшение требования оценка инженерный подход выборочный контроль технические условия
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=306072

Similar Items