• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Advanced
  • Релаксационные методы исследов...
  • Cite this
  • Text this
  • Email this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Релаксационные методы исследования энергетического спектра локализованных состояний в полупроводниках учебное пособие

Релаксационные методы исследования энергетического спектра локализованных состояний в полупроводниках, учебное пособие

Bibliographic Details
Main Author: Сыноров В. Ф. Владимир Федорович
Other Authors: Сысоев Б. И. Борис Иванович, Линник В. Д. Вячеслав Дмитриевич
Published: Воронеж, Изд-во Воронежского гос. ун-та, 1982
Subjects:
энергетический спектр
исследование
релаксационные методы
полупроводники
локализованные состояния
изотермические методы
твердые тела
термоактивационный процессы
спектроскопия
полупроводниковые конденсаторы
учебные пособия
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=299083
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Similar Items

  • Propagation de L`Electricité. Histoire et Théorie Cours du college de france
    by: Brillouin M. Marcel
    Published: (Paris, Librairie Scientifique A. Hermann, 1904)
  • Зарядоперенос в структурах с диэлектрическими слоями
    by: Гуртов В. А. Валерий Алексеевич
    Published: (Петрозаводск, Изд-во ПетрГУ, 2010)
  • Исследование энергетического спектра рентгеновской трубки
    by: Баулин А. А. Анатолий Анатольевич
    Published: (2017)
  • Стационарные и релаксационные электрические методы исследования точечных дефектов в полупроводниках
    by: Зыков В. М.
    Published: (2000)
  • Методы оценки энергетического спектра случайных процессов учебное пособие
    Published: (Москва, Горячая линия-Телеком, 2017)