Спектроскопия ближней инфракрасной области как метод экстренной диагностики черепно-мозговых гематом; Электронные приборы, системы и технологии

Бібліографічні деталі
Parent link:Электронные приборы, системы и технологии.— 2013.— С. 251-255
Автор: Тимченко К. А.
Співавтор: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)
Інші автори: Чертихина Д. С. (научный руководитель), Торгаев С. Н. Станислав Николаевич, Аристов А. А. Александр Александрович
Мова:Російська
Опубліковано: 2013
Предмети:
Формат: Частина з книги
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=292746

Схожі ресурси