Спектроскопия ближней инфракрасной области как метод экстренной диагностики черепно-мозговых гематом; Электронные приборы, системы и технологии

Bibliographische Detailangaben
Parent link:Электронные приборы, системы и технологии.— 2013.— С. 251-255
1. Verfasser: Тимченко К. А.
Körperschaft: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)
Weitere Verfasser: Чертихина Д. С. (научный руководитель), Торгаев С. Н. Станислав Николаевич, Аристов А. А. Александр Александрович
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: 2013
Schlagworte:
Format: Buchkapitel
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=292746

Ähnliche Einträge