Спектроскопия ближней инфракрасной области как метод экстренной диагностики черепно-мозговых гематом; Электронные приборы, системы и технологии

Спектроскопия ближней инфракрасной области как метод экстренной диагностики черепно-мозговых гематом; Электронные приборы, системы и технологии

Bibliographic Details
Parent link:Электронные приборы, системы и технологии.— 2013.— С. 251-255
Main Author: Тимченко К. А.
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)
Other Authors: Чертихина Д. С. (научный руководитель), Торгаев С. Н. Станислав Николаевич, Аристов А. А. Александр Александрович
Language:Russian
Published: 2013
Subjects:
труды учёных ТПУ
Format: Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=292746

Similar Items