Спектроскопия ближней инфракрасной области как метод экстренной диагностики черепно-мозговых гематом; Электронные приборы, системы и технологии

التفاصيل البيبلوغرافية
Parent link:	Электронные приборы, системы и технологии.— 2013.— С. 251-255
المؤلف الرئيسي:	Тимченко К. А.
مؤلف مشترك:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)
مؤلفون آخرون:	Чертихина Д. С. (научный руководитель), Торгаев С. Н. Станислав Николаевич, Аристов А. А. Александр Александрович
اللغة:	الروسية
منشور في:	2013
الموضوعات:	труды учёных ТПУ
التنسيق:	فصل الكتاب
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=292746

الوصف
الوصف غير متاح.

مواد مشابهة