Спектроскопия ближней инфракрасной области как метод экстренной диагностики черепно-мозговых гематом; Электронные приборы, системы и технологии

Detalhes bibliográficos
Parent link:	Электронные приборы, системы и технологии.— 2013.— С. 251-255
Autor principal:	Тимченко К. А.
Autor Corporativo:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)
Outros Autores:	Чертихина Д. С. (научный руководитель), Торгаев С. Н. Станислав Николаевич, Аристов А. А. Александр Александрович
Idioma:	russo
Publicado em:	2013
Assuntos:	труды учёных ТПУ
Formato:	Capítulo de Livro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=292746

Descrição
Descrição não disponível.

Registos relacionados