MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 291623
005 20231102000416.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\316201 
090 |a 291623 
100 |a 20150415d1983 k y0rusy5003 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем  |e [монография]  |f В. Ф. Сыноров, Р. П. Пивоварова 
210 |a Воронеж  |c Изд-во Воронежского ун-та  |d 1983 
215 |a 152 с.  |c ил.  |d 20 см 
320 |a Библиогр.: с. 149-151 
606 1 |a Микроэлектронные схемы интегральные  |x Расчет на надежность на вычислительных машинах  |x Надежность  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\43844  |9 63285 
610 1 |a микроэлектроника 
610 1 |a микроэлектронные изделия 
610 1 |a качество 
610 1 |a оценка 
610 1 |a параметрическая надежность 
610 1 |a интегральные схемы 
610 1 |a тонкопленочные резисторы 
610 1 |a тонкопленочная металлизация 
610 1 |a монографии 
675 |a 621.382.049.77.019.3  |z rus  |v 4 
700 1 |a Сыноров  |b В. Ф.  |g Владимир Федорович  |4 070 
701 1 |a Пивоварова  |b Р. П.  |g Римма Петровна  |4 070 
801 0 |a RU  |b RuMRKP  |c 19950704  |g psbo 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20150415 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20181225  |g RCR 
942 |c BK