• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Tarkennettu
  • Параметрическая надежность и ф...
  • Sitaatti
  • Tekstiviesti
  • Lähetä sähköpostilla
  • Tulosta
  • Vie tietue
    • Vienti: RefWorks
    • Vienti: EndNoteWeb
    • Vienti: EndNote
  • Pysyvä linkki
Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем: [монография]

Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем: [монография]

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Сыноров В. Ф. Владимир Федорович
Muut tekijät: Пивоварова Р. П. Римма Петровна
Kieli:venäjä
Julkaistu: Воронеж, Изд-во Воронежского ун-та, 1983
Aiheet:
Микроэлектронные схемы интегральные > Расчет на надежность на вычислительных машинах > Надежность
микроэлектроника
микроэлектронные изделия
качество
оценка
параметрическая надежность
интегральные схемы
тонкопленочные резисторы
тонкопленочная металлизация
монографии
Aineistotyyppi: Kirja
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=291623
  • Saatavuustiedot
  • Kuvaus
  • Samankaltaisia teoksia
  • Henkilökuntanäyttö

Samankaltaisia teoksia

  • Анализ надежности микроэлектронных систем при автоматизированном проектировании
    Tekijä: Брюнин В. Н. Владимир Николаевич
    Julkaistu: (Москва, Радио и связь, 1984)
  • Кн. 5: Качество и надежность интегральных микросхем; Микроэлектроника
    Tekijä: Козырь И. Я. Иван Яковлевич
    Julkaistu: (1987)
  • Физические основы надёжности интегральных схем
    Julkaistu: (Москва, Советское радио, 1976)
  • Диэлектрики интегральных схем
    Tekijä: Шнаревич Е. И. Елена Ивановна
    Julkaistu: (Москва, Энергия, 1975)
  • № 6 (12); Качество и надежность изделий; Ускоренные испытания элементов и систем; Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем
    Julkaistu: (1990)