| Summary: | Пособие посвящено методам определения твердости поверхности и тонких пленок. Описаны имеющиеся лабораторные методы и установки для их реализации. Особое внимание отведено проблемам микро- и наноиденти-рования, необходимых для исследований наноструктурных веществ. Подробно изложены методы вычисления твердости по измеренным параметрам и определения ошибок измерений. В приложении приводятся таблицы и руководства, необходимые для использования в конкретных измерениях и вычислениях.Предназначено для бакалавров, магистрантов и аспирантов, обучающихся по специальности 01.04.07 «Физика конденсированного состояния вещества». |
|---|
