MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 281512
005 20231101235417.0
020 |a RU  |b 86-81313 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\305294 
090 |a 281512 
100 |a 20150123d1986 k y0rusy5003 ca 
101 0 |a rus 
102 |a UA 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Прогнозирование надежности полупроводниковых лавинных диодов  |f Р. В. Конакова [и др.]  |g Академия наук Украинской ССР (АН УССР), Институт полупроводников (ИП) 
210 |a Киев  |c Наукова думка  |d 1986 
215 |a 188 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 174-186 
320 |a Предм. указ.: с. 187-188 
606 1 |a Диоды полупроводниковые  |x Надежность  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\9556  |9 36782 
610 1 |a лавинные диоды 
610 0 |a прогнозирование 
610 0 |a деградация 
610 0 |a пробой 
610 0 |a ударная ионизация 
610 0 |a надежность 
675 |a 621.382.2  |z rus  |v 3 
701 1 |a Конакова  |b Р. В.  |g Раиса Васильевна 
701 1 |a Кордош  |b П.  |g Петер 
701 1 |a Тхорик  |b Ю. А.  |g Юрий Александрович 
701 1 |a Файнберг  |b В. И.  |g Владимир Израилевич 
701 1 |a Штофаник  |b Ф.  |g Франтишек 
712 0 2 |a Академия наук Украинской ССР (АН УССР)  |b Институт полупроводников (ИП)  |c (Киев)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\12057 
801 0 |a RU  |b RuMRKP  |c 19950704  |g psbo 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20150123 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20170607  |g RCR 
942 |c BK