• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Pokročilé
  • Прогнозирование надежности пол...
  • Vytvořit citaci
  • Zaslat SMS
  • Poslat e-mailem
  • Vytisknout
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
  • Trvalý odkaz
Прогнозирование надежности полупроводниковых лавинных диодов

Прогнозирование надежности полупроводниковых лавинных диодов

Podrobná bibliografie
Korporativní autor: Академия наук Украинской ССР (АН УССР) Институт полупроводников (ИП)
Další autoři: Конакова Р. В. Раиса Васильевна, Кордош П. Петер, Тхорик Ю. А. Юрий Александрович, Файнберг В. И. Владимир Израилевич, Штофаник Ф. Франтишек
Jazyk:ruština
Vydáno: Киев, Наукова думка, 1986
Témata:
Диоды полупроводниковые > Надежность
лавинные диоды
прогнозирование
деградация
пробой
ударная ионизация
надежность
Médium: Kniha
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=281512
  • Jednotky
  • Popis
  • Podobné jednotky
  • UNIMARC/MARC

Podobné jednotky

  • Die Initiatorschaltkreise B 303 D.....B 306 D
    Autor: Kulla E. Eberhard
    Vydáno: (Berlin, Militarverlag, 1988)
  • Перенос носителей заряда в структурах из GaAs с глубокими центрами Fe, Cr и El2: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук; спец. 1.3.11
    Autor: Верхолетов М. Г. Максим Георгиевич
    Vydáno: (Томск, 2023)
  • Т. 4, дополнительный; Диоды и их зарубежные аналоги
    Vydáno: (2011)
  • Надежность полупроводниковых устройств: пер. с англ.
    Vydáno: (Москва, Иностранная литература, 1963)
  • Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении; Теплофизические основы энергетических технологий
    Autor: Курмангалиев Р. Х.
    Vydáno: (2014)