Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем: материалы III Всесоюзного научно-технического семинара, Рязань, 14-16 июня 1984 г.

書誌詳細
共著者:	Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем, Рязанский радиотехнический институт (РРИ)
その他の著者:	Орешкин П. Т. (редактор)
言語:	ロシア語
出版事項:	Рязань, Изд-во РРТИ, 1985
主題:	Полупроводниковые схемы стабильность надежность микроэлементы микросхемы конференции барьерные слои релаксация
フォーマット:	図書
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=275649

MARC


LEADER	00000nam0a2200000 4500
001	275649
005	20231101234838.0
035			\|a (RuTPU)RU\TPU\book\298894
090			\|a 275649
100			\|a 20141115d1985 k y0rusy50 ca
101	0		\|a rus
102			\|a RU
105			\|a a z 101zy
200	1		\|a Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем \|e материалы III Всесоюзного научно-технического семинара, Рязань, 14-16 июня 1984 г. \|f Рязанский радиотехнический институт (РРИ) ; под ред. П. Т. Орешкина
210			\|a Рязань \|c Изд-во РРТИ \|d 1985
215			\|a 175 с. \|c ил.
320			\|a Библиогр. в конце докл.
606	1		\|a Полупроводниковые схемы \|2 stltpush \|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\50742 \|9 69392
610	1		\|a стабильность
610	1		\|a надежность
610	1		\|a микроэлементы
610	1		\|a микросхемы
610	1		\|a конференции
610	1		\|a барьерные слои
610	1		\|a релаксация
675			\|a 621.382.049(063) \|v 3
702		1	\|a Орешкин \|b П. Т. \|4 340
712	1	2	\|a Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем \|c конференция \|d 3 \|e Рязань \|f 1984
712	0	2	\|a Рязанский радиотехнический институт (РРИ) \|2 stltpush \|3 (RuTPU)RU\TPU\col\109
801		1	\|a RU \|b 63413507 \|c 20141115
801		2	\|a RU \|b 63413507 \|c 20170330 \|g RCR
942			\|c BK