Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем, материалы III Всесоюзного научно-технического семинара, Рязань, 14-16 июня 1984 г.

Bibliographic Details
Corporate Authors: Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем, Рязанский радиотехнический институт (РРИ)
Other Authors: Орешкин П. Т. (340)
Published: Рязань, Изд-во РРТИ, 1985
Subjects:
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=275649